3.2.2.3.3 仪器和直探头组合的始脉冲宽度（在基准灵敏度下）：对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为2.5MHz的探头，宽度不大于15mm。

　　3.3.1.1 承压设备的制造、安装和在用检验中，超声检测的检测时机及抽检率的选择等应按相关法规、标准及有关技术文件的规定。

　　3.3.1.3 焊缝的表面质量应经外观检测合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的处理。

　　3.3.2 扫查覆盖率 为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15％。

　　3.3.3 探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过150mm／s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。

　　c）曲面补偿。对探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近的试块，通过对比试验进行曲率补偿。3.4 系统校准和复核

　　3.4.1 一般要求 系统校准应在标准试块上进行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得稳定和最大的反射信号。

　　3.4.2 仪器校准 每隔3个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定，测定方法按JB／T10061的规定。

　　3.4.3 新购探头测定 新购探头应有探头性能参数说明书，新探头使用前应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等主要参数的测定。测定应按JB／T10062的有关规定进行，并满足其要求。

　　3.4.4.1 使用仪器-斜探头系统，检测前应测定前沿距离，K值和主声束偏离，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。

　　3.4.4.2 使用仪器-直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。

　　a）每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线％，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。

　　b）每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。一般对距离-波幅曲线点。如曲线dB，则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检；如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。

　　3.4.7 校准、复核的有关注意事项 校准、复核和对仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。

　　3.5.1.2 标准试块应采用与被检工件声学性能相同或近似的材料制成，该材料用直探头检测时，不得有大于或等于Φ2mm平底孔当量直径的缺陷。

　　3.5.2.2 对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度应由其最大厚度来确定。

　　4.1.4.1 板厚不大于20mm时，用CBI试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50％，再提高10dB作为基准灵敏度。

　　4.1.4.2 板厚大于20mm时，应将CBII试块Φ5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50％作为基准灵敏度。

　　4.1.4.3 诚厚不小于探头的3倍近场区时，也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与4.1.4.2的要求相一致。

　　可选钢板的任一轧制表面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可选钢板的上、下两轧制表面分别进行检测。

　　a）探头沿垂直于钢板压延方向，间距不大于100mm的平行线进行扫查。在钢板剖口预定线mm时，以板厚的一半为准）内应作100％扫查，扫查示意图见图3。

　　b）用双晶直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直，并使缺陷波下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的25％或使缺陷第一次反射波波高与底面第一次反射波波高之比为50％。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。

　　c）用单直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时，移动探头使缺陷第一次反射波波高下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的25％或使缺陷第一次反射波波高与底面第一次反射波波高之比为50％。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。

　　d）确定4.1.6.1c）中缺陷的边界范围或指示长度时，移动探头（单直探头或双直探头）使底面第一次反射波升高到荧光屏满刻度的50％。此时探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。

　　c）当板厚较薄，确需采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，基准灵敏度应以相应的第二次反射波来校准。

　　单个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。若单个缺陷的指示长度小于40mm时，可不作记录。

　　b）多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻较小缺陷的指示长度（取其较大值）时，以各缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。